Reinaldo Dias Ferraz

Entrevista

Reinaldo Dias Ferraz

Entrevista realizada no contexto do projeto "História do Inmetro e da metrologia no Brasil", em vigência, entre março de 1996 e janeiro de 1997, em convênio do CPDOC com o Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro). Esta entrevista subsidiou a elaboração do livro: "MEDIDA, normalização e qualidade: aspectos da história da metrologia no Brasil" / José Luciano de Mattos Dias. Rio de Janeiro: Ed. Fundação Getulio Vargas, 1998. Uma análise das entrevistas realizadas encontra-se em Sarmento, Carlos Eduardo Barbosa - 1999 - "Ciência, indústria e soberania nacional: as transformações na política tecnológica brasileira na década de 1970 - memória e projeto". História Oral. Revista da Associação Brasileira de História Oral. n. 2, junho de 1999, p.153-66. A escolha do entrevistado se justificou por ter sido assessor do ministro Israel Vargas (da Ciência e Tecnologia, governo FHC) e participante das equipes que formularam os PADCT, que viriam a cobrir os financiamentos das atividades científicas e do processo de compra de equipamentos e conclusão das obras do Laboratório Nacional de Metrologia, do Inmetro.
Forma de Consulta:
Entrevista em áudio disponível na Sala de Consulta do CPDOC.

Tipo de entrevista: Temática
Entrevistador(es):
José Luciano de Mattos Dias
Carlos Eduardo Barbosa Sarmento
Data: 25/10/1996
Local(ais):
Rio de Janeiro ; RJ ; Brasil

Duração: 1h25min

Dados biográficos do(s) entrevistado(s)

Nome completo: Reinaldo Dias Ferraz
Formação: Graduado em Arquitetura na Universidade de Brasília.
Atividade: Trabalhou no extinto Órgão do Ministério da Educação e Cultura encarregado de financiar a construção das universidades; trabalhou na Secretaria de Tecnologia Industrial (STI); assessor do ministro Israel Vargas.

Equipe

Levantamento de dados: José Luciano de Mattos Dias;Carlos Eduardo Barbosa Sarmento;
Pesquisa e elaboração do roteiro: José Luciano de Mattos Dias;Carlos Eduardo Barbosa Sarmento;

Transcrição:  ;

Técnico Gravação: Clodomir Oliveira Gomes;

Sumário: Cristiano Santiago de Sousa;

Temas

Desenvolvimento científico e tecnológico;
Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial;
Mercosul;
Metrologia;

Sumário

Fita 1-A: Formação acadêmica; o início da carreira profissional no governo; o ingresso na Secretaria de Tecnologia Industrial (STI); a natureza dos primeiros contatos com a metrologia, a normalização e a padronização; comentários sobre o Programa de Aperfeiçoamento e Desenvolvimento Científico e Tecnológico (PADCT); comentários sobre o Programa de Tecnologia Industrial Básica; as razões da demora na implantação do Sistema Metrológico Brasileiro (SINMETRO); questões sobre a localização geográfica do Laboratório Nacional de Metrologia; as dificuldades do INMETRO quanto aos recursos humanos; as limitações geradas pelo antigo caráter corporativista do INMETRO; avaliação do antigo sistema de credenciamento do INMETRO; longos comentários sobre a importância da gestão tecnológica no contexto da competição.

Fita 1-B: Longos comentários sobre a importância da gestão tecnológica no contexto da competição; as desvantagens da ausência de competitividade característica de um mercado fechado; comentários sobre as barreiras não-tarifárias; o crescimento da participação brasileira nos fóruns internacionais; comentários sobre a administração dos recursos humanos no INMETRO; novos comentários sobre as barreiras não-tarifárias; observações sobre o antigo caráter corporativista do INMETRO; os programas de capacitação dos laboratórios.

Fita 2-A: Os programas de capacitação dos laboratórios (continuação); comentários sobre o Mercosul; longos comentários sobre questões relacionadas ao financiamento do desenvolvimento científico e tecnológico; avaliação do SINMETRO.
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